고주파 광대역 부품으로 설계 단순화

전자 테스트 및 측정(T&M)

테스트 및 측정(T&M) 계측 시장은 항상 광대역 성능을 필요로 했습니다. 스펙트럼 분석기, 신호 발생기, 벡터 신호 분석기와 같이 이 시장의 응용 제품 대부분은 넓은 주파수 스펙트럼을 포괄하며 매우 우수한 신호 무결성을 필요로 합니다. 하나의 계측기가 넓은 주파수 대역 스펙트럼을 포괄할 수 있어야 하며(광대역 요구 사항) 매우 낮은 충실도의 신호를 감지할 수 있어야 합니다(낮은 잡음 지수 및 높은 선형성). 따라서 광대역 성능이 중요합니다.

일반적으로 반도체 회사는 RF 사양을 위해 광대역 성능을 포기하거나, 그 반대로 광대역 성능을 위해 RF 사양을 포기해야 했습니다. 이로 인해 T&M 설계자는 넓은 주파수 범위를 포괄하기 위해 여러 광대역 부품을 사용했습니다. 그러나 이러한 해결 방법은 매우 복잡하고 비용이 많이 들며 유지 관리가 까다로웠습니다. 이제 Analog Devices가 설계를 단순화했습니다. 광대역 믹서 부품 T&M을 사용하면 고객은 협대역 부품과 대등하거나 더 우수한 성능을 얻는 동시에, 하나의 부품으로 여러 주파수 대역을 포괄할 수 있습니다. Analog Devices는 업계에서 가장 넓은 수동 광대역 믹서 포트폴리오를 갖추고 있습니다.

아래의 일반 신호 발생기 제품 구성도에서 볼 수 있듯이, ADI의 광대역 부품은 필요한 전체 부품 수를 줄여줄 뿐만 아니라 미래 설계를 위한 하드웨어 아키텍처의 다양성과 성능 향상도 보장합니다.

ADI의 광대역 솔루션이 기존 협대역 설계를 어떻게 단순화하는지 확인하십시오.
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