MM5622 고속 차동 루프백 스위치

대량 생산 테스트 솔루션을 위해 설계된 Menlo Micro의 고속 차동 루프백 스위치

Menlo Microsystems의 MM5622 고속 차동 루프백 스위치 이미지 Menlo Micro의 MM5622-01NBX는 PCIe Gen 5, Gen 6, SerDes 및 기타 표준에서 필요한 고속 차동 신호 스위칭을 지원하는 고속 차동 루프백 스위치(DC 결합)입니다. MM5622-01NBX는 Menlo Micro Ideal Switch® 기술을 기반으로 하며 고성능 응용 제품을 위해 20GHz 대역폭에서 80Gbps로 작동할 수 있습니다.

MM5622-01NBX는 삽입 손실이 낮고 스위칭 속도가 빠르며 30억 회 이상의 스위칭 주기로 작동할 수 있습니다. MM5622-01NBX 시스템 인 패키지(SiP) 솔루션은 호스트 프로세서의 SPI 또는 GPIO 인터페이스를 통해 제어되는 스위치 구동기와 충전 펌프를 완벽하게 통합합니다. 또한 통합 감결합 커패시터는 대량 생산 테스트 솔루션에 필요한 기판 공간을 크게 줄여줍니다.

MM5622-01NBX 스위치는 공간 제약이 있는 최종 테스트 및 프로브 테스트를 위한 우수한 병렬 테스트 기능을 통해 전체 고속 차동 데이터 응용 분야에 높은 데이터 전송률을 제공합니다. 응용 분야로는 스마트폰, 그래픽, 네트워크 프로세서, 마이크로 프로세서, 가속기, 고속 메모리 제품용 칩 테스트 등이 있습니다.

특징
  • 외부 바이어스 및 구동 회로에 대한 요구 사항을 제거하는 통합 충전 펌프 및 구동기
  • 데이터 전송률 속도(낮음, 중간, 높음) 신호 라우팅을 위한 완전 제어 가능한 포트
  • 높은 신뢰성: 30억 회 이상의 스위칭 작업
  • 8.2mm x 8.2mm LGA 패키지
  • DC ~ 20GHz 범위
  • 루프백 기능이 있는 차동 이중 DP3T 스위치
  • 상시 개방, 반사형 액추에이터
  • 낮은 삽입 손실: -2.2dB(20GHz 기준)
응용 분야
  • 고속 데이터 디지털 부품 테스트
  • 광학 전기 모듈 테스트
  • 고속 신호 라우팅
  • ATE 장치 인터페이스 기판
  • 광학 전기 모듈 테스트
  • 차동 스위치 매트릭스

MM5622 High-Speed Differential Loopback Switch

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게시 날짜: 2025-09-09